Fischerscope XDAL (Fluorescencia de Rayos X) Fischer - Grupo Testek
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Fischerscope XDAL


Análisis de Materiales Medición y Análisis de Recubrimientos Fluorescencia de Rayos X

Fluorescencia de Rayos X

  • Fluorescencia de rayos X Fischer Fischerscope XDAL

Fischerscope XDAL

de Fischer

Descripción

El fischerscope XDAL es una solución no destructiva con la mejor relación costo/beneficio para la industria de la galvanoplastia. Permite la medición fácil de recubrimientos sólidos de Cromo, Níquel, Cobre, Zinc, Oro, plata, Estaño, hierro, entre otros elementos sobre distintos tipos de sustratos o materiales. El equipo funciona por medio del principio de espectrometría de fluorescencia de rayos X (EDXRF). El sistema puede ser totalmente automatizado o manual permitiéndole adaptarse a las dimensiones de las piezas.

Características

  • Ideal para la medición de capas muy finas utilizando el detector de deriva de silicio con alta resolución de energía (dispositivo XDAL).
  • Instrumentos de fluorescencia de rayos X para una variedad de tareas de medición, posibles gracias a diferentes componentes de hardware.
  • Medición de recubrimientos funcionales en la electrónica, de paladio, níquel y duros (Nitruros de Titanio sobre Hierro).
  • Industria de la relojería, joyería, el oro, de la grifería y recubrimientos sanitarios.

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Descripción

El fischerscope XDAL es una solución no destructiva con la mejor relación costo/beneficio para la industria de la galvanoplastia. Permite la medición fácil de recubrimientos sólidos de Cromo, Níquel, Cobre, Zinc, Oro, plata, Estaño, hierro, entre otros elementos sobre distintos tipos de sustratos o materiales. El equipo funciona por medio del principio de espectrometría de fluorescencia de rayos X (EDXRF). El sistema puede ser totalmente automatizado o manual permitiéndole adaptarse a las dimensiones de las piezas.

  • Ideal para la medición de capas muy finas utilizando el detector de deriva de silicio con alta resolución de energía (dispositivo XDAL).
  • Instrumentos de fluorescencia de rayos X para una variedad de tareas de medición, posibles gracias a diferentes componentes de hardware.
  • Medición de recubrimientos funcionales en la electrónica, de paladio, níquel y duros (Nitruros de Titanio sobre Hierro).
  • Industria de la relojería, joyería, el oro, de la grifería y recubrimientos sanitarios.
Fluorescencia de rayos X Fischer Fischerscope XDAL
Otras características
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 Instrumentos de fluorescencia de rayos X para una variedad de tareas de medición, posibles gracias a diferentes componentes de hardware.
También es adecuado para probar tableros de circuitos montados o piezas con muescas, debido a la distancia de medición variable (hasta 80 mm).
 Pruebas automáticas en serie con tabla XY programable y eje Z (opcional).
 Ideal para la medición de capas muy finas utilizando el detector de deriva de silicio con alta resolución de energía (dispositivo XDAL).

 Industria de la grifería y recubrimientos sanitarios.
 Conectores eléctricos.
 Protección para la corrección.
 Recubrimientos decorativos como cromo sobre níquel/cobre.
 Medición de películas de oro y recubrimientos de paladio y níquel en tarjetas de computador.
 Medición de recubrimientos funcionales en la electrónica y la industria de los semiconductores.
 Industria de la relojería, joyería y el oro.
 Análisis y Medición de recubrimientos duros (Nitruros de Titanio sobre Hierro).

Más información sobre Fischerscope XDAL (Ingles)

Folleto de Productos X-RAY (Ingles)

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